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    CLJ-BII(J)全半導體激光塵埃粒子計數器

    更新時間:2023-11-09

    訪問量:1674

    簡要描述:
    CLJ-BII(J)全半導體激光塵埃粒子計數器

    CLJ-BII(J)全半導體激光塵埃粒子計數器

    儀器簡介: 

       該儀器的技術指標滿足國家計量總局頒布的JJG547-88檢定規程的要求,整機功能采用微電腦控制處理,可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數,并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況,對于研究、檢測和評價各種潔凈環境都十分方便。

      該系列產品已被廣泛應用于微電子、醫院、制藥、醫療器械、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航天等生產和科研部門,是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范的*儀器。該系列儀器性能設計先進、質量穩定可靠,深受用戶歡迎。經國內貿易部有關部門的市場調查和,先后獲《質量信得過產品》、《消費者信得過產品》、《質量監督合格產品》等榮譽證書。

     

    技術參數:

    型號CLJ-BⅡ(J)

    采樣流量2.83L/min

    檢測范圍100級~30萬級

    自凈時間≤10min

    連續工作時間8h

    打印功能內置打印機

    工作環境溫度10~35℃,相對濕度≤75%

    電源220V±10%,50Hz±2Hz

    粒徑通道0.3,0.5,1,3,5,10(um)六通道

    采樣周期1min~10min

    電源及壽命激光光源>30000h

    功耗35W

    外形尺寸28X11.5X33(cm)

    重量7Kg

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